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Apprentissage en évolution : la cartographie des incidences, outil d'adaptation du processus de planification, de suivi et d'évaluation de St2eep

Deprez, Steff; Ongevalle, Jan Van; Huyse, Huib; Ambrose, Kaia (Section de l'évaluation, CRDI, Ottawa, ON, CA, 2010)
Frequently Asked Questions (FAQs) : Outcome Mapping

IDRC. Evaluation Unit; Ambrose, Kaia; Earl, Sarah; Ongevalle, Jan Van; Nyangaga, Julius (Evaluation Unit, IDRC, Ottawa, ON, CA, 2010)
Preguntas frecuentes : Mapeo de Alcances

CIID. Unidad de Evaluación; Ambrose, Kaia; Earl, Sarah; Ongevalle, Jan Van; Nyangaga, Julius (Unidad de Evaluación, CIID, Ottawa, ON, CA, 2010)
Foire aux questions (FAQ) : cartographie des incidences

CRDI. Section de l'évaluation; Ambrose, Kaia; Earl, Sarah; Ongevalle, Jan Van; Nyangaga, Julius (Section de l'évaluation, CRDI, Ottawa, ON, CA, 2010)
Learning the way forward : adapting St2eep’s planning, monitoring and evaluation process through Outcome Mapping

Deprez, Steff; Ongevalle, Jan Van; Huyse, Huib; Ambrose, Kaia (Evaluation Unit, IDRC, Ottawa, ON, CA, 2010)
Aprendiendo el camino a seguir : adaptación del proceso de planificación, seguimiento y evaluación de St2eep mediante el mapeo de alcances

Deprez, Steff; Ongevalle, Jan Van; Huyse, Huib; Ambrose, Kaia (Unidad de Evaluación, CIID, Ottawa, ON, CA, 2010)

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